Tester Advantest EVA100Advantest ha presentato il suo nuovo sistema di misura e collaudo per circuiti integrati EVA100, una piattaforma che combina le funzionalità di collaudo digitale e analogico per verificate il corretto funzionamento di semiconduttori analogici, mixed-signal e sensori con un numero ridotto di pin.

L’architettura espandibile del tester EVA100 offre la flessibilità necessaria per effettuare una vasta gamma di funzioni di misura. L'interfaccia utente è molto intuitiva e non richiede capacità di programmazione avanzate da parte degli utenti, facilitando l'immissione sul mercato dei nuovi modelli di circuiti integrati e abbassando il costo complessivo delle attività di collaudo.

Leggi tutto: Tester per circuiti integrati analogici, mixed signal e sensori

Categoria: ATE

Tester Advantest T2000Advantest ha presentato un nuovo modulo a 64 canali per la piattaforma di test T2000 dedicata al collaudo di semiconduttori che facilita l'esecuzione di test parametrici di circuiti integrati a elevato numero di pin utilizzati nelle applicazioni di gestione dell’alimentazione e nel settore automobilistico.

Leggi tutto: Modulo ad elevato parallelismo per test IC di potenza

Categoria: ATE

Software NI VeristandNational Instruments ha annunciato che la più recente versione del suo ambiente software per la creazione di applicazioni di collaudo real-time, NI VeriStand 2013, integra anche le funzionalità del software NI DIAdem, il pacchetto dedicato alla gestione e acquisizione dati che facilita la post-elaborazione automatizzata e la generazione di report.

Tramite VeriStand 2013, è ora possibile configurare gli script di automazione e i modelli di report in DIAdem, registrare dati, eseguire la post-elaborazione e generare report con un unico click, garantendo un processo di test di alta qualità.

Leggi tutto: VeriStand 2013 integra DIAdem

Categoria: ATE

Tester Litepoint IQxel-MIl nuovo sistema di collaudo per dispositivi wireless IQxel-M realizzato da LitePoint consente di provare fino a quattro dispositivi contemporaneamente oppure di stimolare lo stesso dispositivo con segnali mmultipliper verificare il corretto comportamento delle diverse radio integrate.

Si tratta di uno strumento che nasce per soddisfare le esigenze del collaudo in produzione, in particolare per velocizzare i test dei moderni terminali multistandard.

Leggi tutto: Tester dispositivi wireless in parallelo

Categoria: ATE

Tester Agilent i3070 Medalist InlineLa nuova versione del sistema di collaudo automatico Medalist i3070 Series 5i Inline di Agilent è un tester in-circuit specificatamente progettato per essere inserito in linee di produzione automatizzate.

Si tratta di una macchina che occupa in fabbrica circa un terzo meno spazio rispetto a un classico tester della serie 3070 e che è stata progettata per facilitarne l'integrazione all'interno di linee ad alta produttività dove gli interventi degli operatori sono ridotti al minimo.

Leggi tutto: Tester in-circuit per linee automatizzate

Categoria: ATE

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