Tester Agilent i3070 Medalist InlineLa nuova versione del sistema di collaudo automatico Medalist i3070 Series 5i Inline di Agilent è un tester in-circuit specificatamente progettato per essere inserito in linee di produzione automatizzate.

Si tratta di una macchina che occupa in fabbrica circa un terzo meno spazio rispetto a un classico tester della serie 3070 e che è stata progettata per facilitarne l'integrazione all'interno di linee ad alta produttività dove gli interventi degli operatori sono ridotti al minimo.

Leggi tutto: Tester in-circuit per linee automatizzate

Categoria: ATE

Modulo 8GWGD per sistema di collaudo Advantest T2000Lo strumento dedicato al collaudo automatico di circuiti integrati analogici o a segnali misti T2000 8GWGD di Advantest integra un generatore di forme d'onda con una frequenza di campionamento di 8 Gsps  e un digitalizzatore da 8 GHz.

Si tratta di un ulteriore modulo disponibile per la piattaforma T2000 particolarmente utile per il collaudo di circuiti integrati SoC (System on Chip) che facilita la generazione di segnali di stimolo e l'acquisizione delle risposte sulle interfacce dei dispositivi di comunicazioni ad alta velocità e ad alta frequenza, che sono molte utilizzati per i collegamenti con memorie di massa ad alta velocità.

Leggi tutto: Generatore forme d'onda e digitalizzatore per collaudo IC

Categoria: ATE

Advantest entra nel mercato del collaudo delle schede di memoria allo stato solido SSD (Solid State Drive) e bus di comunicazione PCI Express 3.0 NVMe con la sua nuova piattaforma di collaudo automatico NEO-SSD.

La piattaforma configurabile NEO-SSD proposta da Advantest è in grado di supportare molteplici protocolli e soddisfa le esigenze del collaudo di sistemi di memoria allo stato solido a livello di sistema, sia per attività di validazione e controllo qualità, sia a livello di produzione.

Leggi tutto: Sistema di collaudo per memorie allo stato solido

Categoria: ATE

Tester Advantest T7831Advantest ha presentato il nuovo sistema T5831 dedicato al collaudo di circuiti integrati di nuova generazione destinato al settore dei terminali e reti mobili, comprese le memorie NAND Flash con interfaccia ad alta velocità ONFi (Open NAND Flash Interface) e Toggle Mode.

Il nuovo tester automatico permette anche di verificare contemporanemente il corretto funzionamento della memoria NAND Flash e DRAM mobile assemblate nello stesso package del circuito integrato.

Leggi tutto: Tester per NAND Flash e NAND MCP

Categoria: ATE

Sistema di collaudo automatico per semiconduttori di AdvantestLa soluzione software TFI 2.0 (Test Floor Intelligence) recentemente presentata da Advantest appartiene alla nuova generazione di applicativi dedicati al filone dei 'Big Data', ossia l'analisi di grandi masse di dati per cercare di identificare informazioni rilevanti che aiutino a prendere decisioni.

In questo caso, il software in questione promette di scandagliare i dati ricavati nelle attività di collaudo dei semiconduttori con l'obiettivo di migliorare l'efficienza complessiva del collaudo in produzione misurata secondo il parametro OEE (Overall Equipment Effectiveness).

Leggi tutto: Big Data nel collaudo di semiconduttori

Categoria: ATE

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