Agilent Technologies ha presentato un nuovo analizzatore da banco per effettuare prove e collaudi tramite la metodologia boundary scan.

L'analizzatore boundary scan Agilent x1149 è uno strumento destinato ai laboratori di sviluppo e validazione che desiderano verificare il comportamento di componenti e schede, oppure di programmare componenti già montati sulla scheda, quali CPLD e FPGA, sfruttando le catene di scansione inserite nei circuiti stampati e nei circuiti integrati usando le stesse tecniche adottabili anche nelle linee di produzione.

Il controllore boundary scan Agilent x1149 permette di eseguire controlli strutturali sui componenti montati sulla scheda, come la presenza di circuiti aperti o corto circuiti, ma anche di programmare direttamente i circuiti logici programmabili già montati. Inoltre, lo strumento x1149 consente anche di programmare memorie PROM e di verificare il corretto comportamento di dispositivi di memoria come le DDR SDRAM (Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory).

Perfettamente comforme allo standard Boundary Scan IEEE 1149.1, il controllore x1149 offre anche la possibilità di estendere la copertura dei dispositivi controllabili usando una tecnologia inniovativa denominata Cover-Extend Technology, che permette di verificare il funzionamento di connettori, zoccoli e di dispositivi privi di catene IEEE1149.1 interne.

Il controllo Agilent x1149 supporta anche lo standard IEEE 1149.6 per le prove su linee bus accoppiate in alternata a contiene un sistema che semplifica l'interconnessione di più catene di scansione (scan chain linker) per massimizzare la copertura dei difetti rilevabili.

Grazie alla sua interfaccia utente grafica intuitiva, con pochi click si possono creare tutte le configurazioni necessarie per provare le varie zone e i componenti montati sulla scheda, nonché avviare le procedure di programmazione dei dispositivi programmabili.

Un'altro utilizzo tipico delle catene boundary scan supportato dal controllore Agilent x1149 è la gestione e l'esecuzione delle procedure di collaudo automatico interno presenti in molti circuiti integrati o sottosistemi utilizzati sulle schede a circuito stampato (Built In Self Test).

Il controllore Agilent x1149 supporta 4 porte di accesso boundary scan (TAP) e una velocità di clock TCK di 22,5 MHz (TestClock).