Keithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).

Questa versione di aggiornamento integra numerose caratteristiche innovative e funzioni che permettono di ampliare le potenzialità del modello 4200CVU (Capacitante-Voltage Unit), compreso il supporto software per la caratterizzazione di dispositivi a semiconduttore a elevata potenza fino a 200 Vc.c. (o 400 V differenziali) e fino a 300 mA.

Si tratta  di una caratteristica particolarmente utile per tutti coloro che hanno a che si occupano di dispositivi in tecnologia LDMOS (Laterally Diffused MOS) e altri dispositivi a semiconduttore a elevata potenza utilizzati nel settore automobilistico, della visualizzazione, dei MEMS e in altre applicazioni a elevata potenza.

La nuova versione KTEI V7.1 può supportare numerose nuove funzioni tra cui:

• Polarizzazione in c.c. differenziale
• Collaudo-CV quasi statico
• Un insieme ampliato di librerie di collaudo dei dispositivi
• Un’ampia gamma di migliorie software ideate per semplificare e ridurre i tempi di collaudo
• Supporto per il collaudo ad alta potenza

La nuova opzione C-V Power Package 4200-CVU-PWR è stata realizzata per operare in sinergia con i tool software per il test C-V presenti in KTEI V71 per consentire il collaudo C-V di dispositivi di elevata potenza a tensioni fino a 200 Vc.c. (o 400 Vc.c. differenziali) e correnti fino a 300 mA.

Il collaudo C-V è richiesto per la progettazione, il collaudo e la modellazione di dispositivi elettrici usati in ambito automobilistico, MEMS, LDMOS, display e altri dispositivi a elevata potenza.Con l’aggiunta del pacchetto C-V Power Package, lo strumento 4200-SCS può supportare applicazioni C-V a elevata potenza, I-V impulsivo (corrente-tensione) e DC I-V all’interno di una singola apparecchiatura.

Un’altra importante funzionalità di questo aggiornamento è rappresentata dall’utilizzo di polarizzazione in corrente continua differenziali. Il circuito simmetrico dello strumento C-V integrato nel modello 4200-SCS, abbinato a un aggiornamento della memoria flash presente in KTEI 7.1, consente di applicare una polarizzazione c.c. differenziale fino a 60 V su entrambi i terminali C-V HI e C-V LO.

Keithley Instruments è il primo costruttore di analizzatori parametrici a offrire tale possibilità, garantendo una maggiore flessibilità di controllo dei campi elettrici dei dispositivi sottoposti a collaudo. Tale caratteristica risulta particolarmente utile per la modellazione di dispositivi particolari, come ad esempio i componenti nanometrici.

Questo aggiornamento software è in grado di supportare una nuova tecnica di misura C-V quasi statica, il metodo della variazione della velocità di rampa (ramp-rate), che utilizza i preamplificatori e le SMU esistenti nel modello 4200-SCS. Le tecniche C-V quasi-statiche sono indicate per la caratterizzazione di componenti CMOS a bassa potenza, dispositivi di visualizzazione, dielettrici con k elevato e altri dispositivi a basse perdite.