Il nuovo strumento Agilent B1507A serve per caratterizzare automaticamente il comportamento dei dispositivi elettronici di potenza misurando la capacità delle giunzioni usando tensioni operative reali.
La diffusione materiali semiconduttori di nuova generazione, come carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN) permette di realizzare alimentatori a commutazione con frequenze di lavoro più elevate, dove le caratteristiche di capacità dei dispositivi assumo un ruolo più importante che mai.
L'analizzatore di capacità Agilent B1507A nasce proprio per misurare accuratamente e in modo automatico tutte le capacità dirette e inverse delle giunzioni dei semiconduttori di potenza quando sono polarizzati con livello di tensioni elevati che corrispondono alle reali condizioni operative tipiche di questi componenti.
Lo strumento B1507A offre una soluzione completa per la caratterizzazione dei parametri che influenzano le prestazioni degli alimentatori di potenza ad elevata frequenza di commutazione.
La funzionalità di misura comprendono la capacità a tre terminali (Ciss, Coss and Crss) con elevate tensioni di polarizzazione (+/-3 kV), la resistenza di gate, la corrente di dispersione e la tensione di rottura (breakdown), con modalità molto più dettagliate rispetto a quanto si può ottenere rispetto ai classici tracciacurve che misurano le caratteristiche IV dei componenti elettronici.
Lo strumento permette di ottenere automaticamente tutte le curve della capacità di ingresso, capacità di uscita e inversa (Ciss, Coss, Crss, Cies, Coes, Cres) ad alta tensione di polarizzazione, le capacità dei terminali indipendenti (Cgs, Cgd, Cds, Cge, Cgc, Cce) e le capacità dei dispositivi normalmente nello stato di conduzione, come i JFET in SiC o i FET in GaN.
Inoltre, è possibile misurare in modo continuo la capacità mentre la tensione di gate varia da valori positivi a negativi, nonché passare dalla misura di corrente di dispersione alle misure di capacità senza intervenire sul cablaggio.
Infine, sono previste le misure di resistenza di gate interna (Rg) e la caratterizzazione sul piano IV, comprese tensione di rottura e tensione di soglia.