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Analizzatore parametrico Agilent B1500Agilent Technologies ha presentato un nuova unità di alimentazione e misura (SMU) e un software potenziato per il suo analizzatore parametrico di dispositivi a semiconduttore B1500A.

La nuova unità SMU a media corrente B1514A ha la caratteristica di poter generare impulsi molto veloci, anche di soli 50 µs sulla gamma di tensioni e correnti da 30 V/1 A, che possono essere osservati in tempo reale mediante una visualizzazione stile oscilloscopio.

Con la nuova versione del software EasyEXPERT 5.5 direttamente integrata all'interno dell'analizzatore parametrico, che sfrutta il sistema operativo Winddows 7, è possibile eseguire moltissime prove in modo del tutto automatico e personalizzatbili sfruttando più di 300 test già pronti all'uso.

L'analizzatore parametrico B1500A supporta tutte le attività di caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttore potendo lavorare su gamme di correntre e tensione comprese tra 0,1 fA e 1 A e tra 0,5 µV e 200 V, nonché su gamme di capacità con frequenze di prova da 1 kHz e 5 MHz.

Una particolarità dell'analizzatore, confermata anche dalla più recente unità di alimentazione e misura per correnti medie, è la capacità di eseguire misure impulsive con segnali molto veloci.

Misure con segnali impulsi velociTra gli ultimi miglioramenti apportati a questo strumento segnaliamo:

  • Misure impulsive più veloci con l'unità SMU per medie correnti B1514A durata minima degli impulsi di 50 µs con la possibilità di usare la modalità di visualizzazione dei segnali misurati stile oscilloscopio presente nel software  EasyEXPERT
  • Correnti di misura molto basse, ache di soli 0,1 fA, disponibili ad un costo inferiore con l'unità SMU a media potenza dotata di commutatore e rilevatori della classe attoampere, che permette di caratterizzare le correnti parassite dei semiconduttori di nuova generazione
  • Potenziamento delle funzioni di telecontrollo per la caratterizzazione automatica presenti nel software EasyEXPERT 5.5 e supporto di tutte le nuove unità di alimentazione e misura con nuovi esempi applicativi

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