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Sistema di collaudo automatico per semiconduttori di AdvantestLa soluzione software TFI 2.0 (Test Floor Intelligence) recentemente presentata da Advantest appartiene alla nuova generazione di applicativi dedicati al filone dei 'Big Data', ossia l'analisi di grandi masse di dati per cercare di identificare informazioni rilevanti che aiutino a prendere decisioni.

In questo caso, il software in questione promette di scandagliare i dati ricavati nelle attività di collaudo dei semiconduttori con l'obiettivo di migliorare l'efficienza complessiva del collaudo in produzione misurata secondo il parametro OEE (Overall Equipment Effectiveness).

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Categoria: ATE

Alimentatori programmabili PXINational Instruments ha presentato due nuovi alimentatori programmabili ad alta densità di potenza per sistemi di misura e collaudo modulari in formato PXI.

I due nuovi moduli NI PXIe-4112 e NI PXIe-4113 permettono di gestire maggiori assorbimenti all'interno di uno stesso rack contribuendo pertanto a minimizzare lo spazio e il numero di slot occupati nei cestelli PXI.

Leggi tutto: Alimentatori programmabili PXI ad alta densità

Categoria: ATE

Cercaguasti PinPoint AlphaPinPoint Alpha è un economico sistema di collaudo sviluppato per Diagnosys destinato alla ricerca guasti su schede a circuito stampato.

PinPoint Alpha fa parte degli strumenti diagnostici della famiglia PinPoint che sono stati progettati per facilitare il rilevamento di un guasto e la rapida identificazione della sua causa originaria a livello di componente.

Leggi tutto: Cercaguasti PinPoint Alpha

Categoria: ATE

Gateway GPIB Agilent E5810BCon il gateway LAN/GPIB/USB E5810B realizzato da Agilent Technologies è possibile collegarsi via LAN e telecomandare fino a 14 strumenti di misura con interfaccia GPIB (Ieee 488), 4 strumenti via USB e 1 strumento tramite l'interfaccia seriale RS232.

La velocità massima supportata dal gateway verso l'interfaccia GPIB è di ben 1,2 MB/s, mentro sul lato della rete locale vengono supportate tutte le più moderne interfacce, come 1000BASE-T (1 Gb/s), 100BASE-TX e la classica 10BASE-T.

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Categoria: ATE

Controllo prober su wafer semiconduttori di potenzaKeithley Instruments ha annunciato presentato la versione 5.0 del suo pacchetto software ACS (Automated Characterization Suite) che è ora supporta una nuova serie di funzioni specifiche per facilitare la caratterizzazione e il collaudo parametrico di semiconduttori di potenza.

La nuova release 5.0 di ACS può sfruttare le risorse di tutte le più recenti unità di alimentazione e misura (SMU) di Keithley, come i modelli ad alta corrente 2651A e ad alta tensione 2657A per consentire il collaudo automatizzato a livello di wafer di semiconduttori ad alta potenza, come MOSFET, IGBT, BJT diodi e così via.

Leggi tutto: Caratterizzazione wafer per semiconduttori di potenza

Categoria: ATE

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