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Controllore boundary scan Agilent x1149Agilent Technologies ha presentato un nuovo analizzatore da banco per effettuare prove e collaudi tramite la metodologia boundary scan.

L'analizzatore boundary scan Agilent x1149 è uno strumento destinato ai laboratori di sviluppo e validazione che desiderano verificare il comportamento di componenti e schede, oppure di programmare componenti già montati sulla scheda, quali CPLD e FPGA, sfruttando le catene di scansione inserite nei circuiti stampati e nei circuiti integrati usando le stesse tecniche adottabili anche nelle linee di produzione.

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Categoria: ATE

Switch RF per bus PXI di National InstrumentsNational Instruments ha aggiunto 20 matrici di commutazione (switch) di vario tipo per bus PXI e PXI Express utilizzabili per istradare i segnali nei sistemi di collaudo automatico modulari.

I nuovi modelli spaziano dalle matrici generiche per segnali a bassa frequenza fino ai multiplexer per segnali a radiofrequenza e si aggiungono alla già ampia gamma di matrici programmabili presenti nel catalogo dell'zienda americana.

Leggi tutto: 20 nuove matrici PXI da National Instruments

Categoria: ATE

Generatore di segnali per la piattaforma FlexRIO E' un'azienda italiana ad aver sviluppato uno dei più avanzati moduli per la generazione di forme d'onda arbitrarie complesse ad alta velocità per il sistema modulare PXI FlexRIO di National Instruments.

I moduli AT-1120 e AT-1212 a 1 e 2 canali di Active Technologies consentono di sintetizzare segnali di stimolo con larghezza di banda fino a 800 MHz (1 canale) o 480 MHz (2 canali) con campionamento a 2 Gs/s o 1,25 Gs/s con risoluzione di ben 14 bit.

Leggi tutto: Modulo generatore di segnali complessi per FlexRIO

Categoria: ATE

Sistema di collaudo automatico per semiconduttori Advantest T2000Advantest un veloce modulo per l'acquisizione di immagini utilizzabile per collaudare in modo economicamente vantaggioso i chip a semiconduttore con interfaccia D-PHY e M-PHY ad alta frequenza e bassa potenza.

Il nuovo modulo di acquisizione di immagini CMOS T2000 3Gbps è integrato all'interno del sistema di collaudo automatico T2000 ISS di Advantest, una piattaforma di test utilizzata per la verifica di un'ampia gamma di circuiti integrati SoC (System-on-Chip).

Leggi tutto: Sensore d'immagini per collaudo semiconduttori

Categoria: ATE

Advantest presentato la sua nuova soluzione di test T2000 IMS dedicata al collaudo ad elevato parallelismo di microcontrollori dotatI di circuiti analogici e di memoria flash integrati, tra cui quelli dedicati al mercato delle smart card.

Progettata per effettuare il collaudo su vasta scala di un massimo di 256 dispositivi contemporaneamente, la nuova soluzione integrata di test ad elevato parallelismo di Advantest è caratterizzata da un'architettura universale per pin del tester che gestisce internamente 208 canali con risorse di misura diversificate per garantire la massima flessibilità.

Categoria: ATE

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