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Advantest ha anticipato i primi dettagli della sua soluzione di nuova generazione per il collaudo di semiconduttori basata sulla tecnologia del “cloud computing”, la cui disponibilità effettiva è prevista per l'autunno 2012.

Battezzata CloudTesting Service (CTS), la nuova solzuione promette di offrire funzionalità di test all’avanguardia per applicazioni di progettazione e ricerca e sviluppo nel campo dei semiconduttori.

Leggi tutto: Servizi cloud per il collaudo automatico

Sistema di ispezione ottica automatica iSpectorLa nuova generazione di sistemi di ispezione ottica automatica (AOI) di schede a circuito stampato iSpector di Mek Europe (ex Marantz Business Electronics) è caratterizzata da un un formato molto compatto che ne agevola l'utilizzo sia in configurazioni da laboratorio con caricamento manuale che in linea di produzione abbinati a sistemi di caricmento automatici.

Leggi tutto: Sistema compatto per l'ispezione ottica di circuiti stampati

Sistema di collaudo per memorie Advantest T5511Advantest Corporation ha presentato il sistema di collaudo per memorie DRAM ad alta velocità di nuova generazione T5511 che permette di eseguire test con una velocità fino a 8 Gbps.

Il nuovo sistema di collaudo automatico della multinazionale giapponese è adatto anche al collaudo dei più veloci dispositivi GDDR5-SDRAM con un'architettura che supporta la velocità massima di collaudo su tutti i pin contemporaneamente.

Leggi tutto: Collaudo memorie DRAM fino a 8 Gbps

Analizzatore vettoriale di segnali MIMO a banda largaAgilent Technologies ha realizzato un analizzatore vettoriale basato su schede PXI dedicato ai segnali trasmessi con tecniche parallele MIMO con la più elevata larghezza di banda di modulazione.

Ad esempio, il nuovo analizzatore modulare Agilent consente di verificare la correttezza e validare i progetti di chip e sistemi sviluppati per le trasmissione wireless a standard 802.11ac.

Leggi tutto: Analisi vettoriale di segnali MIMO con schede PXI

Sistema di collaudo parametrico per semiconduttori Keithley S530Con la nuova versione 5.4 del software per l’ambiente di collaudo parametrico per semiconduttori S530, di Keithley Instruments sono state introdotte anche nuove funzionalità di misura.

I sistemi di collaudo Keitley S530 possono ora essere configurati per collegare sonde Kelvin sfruttando 48 pin e dispongono di nuove opzioni integrate per la generazione di impulsi, misure di frequenza e misure a bassa tensione.

Leggi tutto: Nuove funzioni di test per Keithley S530

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Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
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