La soluzione software TFI 2.0 (Test Floor Intelligence) recentemente presentata da Advantest appartiene alla nuova generazione di applicativi dedicati al filone dei 'Big Data', ossia l'analisi di grandi masse di dati per cercare di identificare informazioni rilevanti che aiutino a prendere decisioni.

In questo caso, il software in questione promette di scandagliare i dati ricavati nelle attività di collaudo dei semiconduttori con l'obiettivo di migliorare l'efficienza complessiva del collaudo in produzione misurata secondo il parametro OEE (Overall Equipment Effectiveness).

Come spiega Stephen Ledford, direttore della divisione Soluzioni di produzione globali di Advantest, "ottimizzare l'OEE non è un compito semplice. È necessario combinare fonti di dati corpose, sistemi di analisi rapidi e controllo automatizzato dei processi per ottimizzare l'utilizzo del sistema di test, il tempo di test, i cicli di manutenzione e il rendimento effettivo".

Secondo Ledford, "il nostro TFI 2.0 rappresenta il primo passo nella realizzazione di una raccolta dati integrata e un sistema di report per tutti i sistemi di test Advantest accessibili da un unico server, agevolando l'integrazione flessibile in fabbrica mediante un'architettura aperta".

In sostanza, la soluzione TFI di seconda generazione presentata da Advantest consente di raccogliere dati in tempo reale, controllarli e generare report basati su Web che consentono ai responsbili di collaudo e produzione di verificare istantaneamente l'utilizzo dei sistemi di test, lo stato degli stessi, il rilevamento degli errori, il rendimento effettivo e altri parametri operativi fondamentali. Il sistema agevola l'identificazione dei potenziali problemi riconducibili al programma di test, all'hardware di interfaccia e al sistema di test prima che si verifichino conseguenze negative a livello di produttività.

Grazie a un accordo siglato recentemente, le soluzioni software TFI di Advantest verranno distribuite anche da Galaxy Semiconductor Solutions.