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Sistema di collaudo parametrico Keysight P9000Keysight Technologies ha presentato il suo sistema di collaudo parametrico ad elevato parallelismo di terza generazione P9000.

Si tratta di un sistema di collaudo automatico che velocizza l'adozione su larga scala delle più recenti tecnologie microelettroniche riducendo il costo de collaudo durante le fasi di sviluppo e produzione in serie di semiconduttori logici avanzati e circuiti integrati di memoria di ultima generazione.

Ad esempio, lavorando con i nuovi tipi di strutture dei dispositivi a semiconduttore dalle prestazioni elevate realizzati ai nodi tecnologici più avanzati (minori o uguali a 20 nm), il numero di misure da effettuare per una loro caratterizzazione parametrica cresce drasticamente.

Quando il sistema di collaudo P9000 fu introdotto, permisi di effettuare misure parallele su 100 pin per caratterizzare molteplici dispositivi elettronici sui wafer di silicio usando dei moduli con unità di test dedicate per pin.

Il modulo era dotato di tutte le funzionalità di misura tipiche richieste per il collaudo parametrico (come tensione, corrente, capacità, impulsi e frequenza). Inoltre, la tecnologia di misura a carica diretta DCM (Direct Charge Measurement) permetteva di eseguire misure rapide di capacità in parallelo su 100 pin.

La seconda generazione del sistema di collaudo P9000 introdusse le tecnologia di misura rapida delle tensione di soglia sviluppata da Keysight. La tecnologia di misura rapida della tensione V (threshold voltage) era quattro volte più veloce di qualunque altro metodo di test convenzionale.

Sistema di collaudo parametrico Keysight P9000Con l'introduzione delle terza generazione del sistema P9000—dotata del nuovo modulo di test parametrico per pin Keysight P9015A—il tester ha ulteriormente ridotto il tempo necessario per effettuare le misure di capacità, per rispondere alla tendenza all'aumento del numero di misure da effettuare sulle capacità richiesto dalla presenza di nuovi tipi di interconnessioni multistrato e delle nuove strutture dei dispositivi microelettronici.

Il nuovo modulo permette di misurare le dispersioni di capacità utilizzando la tecnologia DCM potenziata ad una velocità più che doppia rispetto alla singole misure di capacità, mantenendo una buona correlazione per i diversi tipi di capacità (rispetto a un tradizionale misuratore LCR). Inoltre, la possibilità di effettuare misure di capacità in parallelo su 100 pin permette di ottenere un'elevate velocità complessiva del collaudo.

Categoria: ATE

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