FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024
Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
Keithley Instruments ha realizzato nuove funzionalità a livello hardware, firmware e software per il sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS dedicate alle prove sulle celle solari.
La release 7.2 dell'ambiente software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) prevede nove nuove librerie per test di celle solari, l'ampliamento del range di frequenza per le misure C-V (Capacitance-Voltage) e il supporto per il nuovo chassis a nove slot del modello 4200-SCS.
Le nuove librerie di test incluse nella versione 7.2 di KTEI ampliano le potenzialità del modello 4200-SCS per quanto concerne i collaudi di resistività, C-V e I-V delle celle solari, che stanno suscitando in interesse sempre maggiore anche in considerazione del azioni intraprese dai vari governi nazionali a favore della diffusione delle energie alternative.
In questo aggiornamento software è previsto anche il supporto della metodologia DLCP (Drive-Level Capacitance Profiling), una nuova tecnica per il collaudo di celle solari di difficile esecuzione con le precedenti soluzioni di test.
Grazie a questa tecnica è possibile ottenere informazioni circa la densità di difetti delle celle solari a film sottile.
Le schede 4200CVU (Capacitance-Voltage Unit) esistenti, introdotte a partire dal mese di novembre del 2007, possono essere rapidamente modificate in modo da supportare questa metodologia di test.
L'intervallo di frequenza delle schede CVU è stato ampliato a 1 kHz a 10 MHz (da 10 kHz a 10 MHz) in modo da poter gestire il collaudo DLCP.
L'estensione dell'intervallo di frequenza permette di ampliare i campi di applicazione del sistema, rendendo possibile il collaudo di LCD a pannello piatto e di semiconduttori organici quali ad esempio gli OLED (Organic Light-Emitting Diodes).
La costante crescita delle applicazioni di caratterizzazione C-V, impulsive e I-V si traduce nel fatto che gli utilizzatori del modello4200-SCS per i quali le risorse e la flessibilità di collaudo sono elementi di fondamentale importanza si trovano di fronte a mainframe particolarmente "affollati".
Al fine di soddisfare queste esigenza la release 7.2 di Keithley Instruments supporta lo chassis a nove slot. In precedenza il modello 4200-SCS disponeva di otto slot per ospitare un numero sempre crescente di SMU (Source-Measure Unit), schede oscilloscopio e di schede per la generazione di impulsi (CVU)
I sistemi 4200-SCS esistenti possono essere aggiornati per assicurare il supporto di nove slot, mentre tutti i nuovi mainframe avranno questo numero di slot.
Oltre alla nuova release V7.2, Keithley Instruments ha introdotto un nuovo kit di cavi triassiali ad alte prestazioni per la connessione tra il modello 4200-SCS a un prober: esso è stato esplicitamente progettato per semplificare il processo di commutazione tra i test I-V DC (in continua), C-V e impulsivi.
Il nuovo kit di cavi elimina sia il ricorso al ricablaggio sia gli errori di misura che sono spesso il risultato di errori di cablaggio. Il kit di cavi viene fornito in due versioni, una ottimizzata per i prober Cascade Microtech e l'altra per i prober SUSS MicroTec.
