WavePulser 40iX di Teledyne LeCroy è uno strumento per caratterizzare le interconnessioni nel dominio del tempo e della frequenza. Continua...
Conosci la differenza tra precisione e accuratezza?
Per scegliere il modello più adatto al proprio lavoro occorre non solo fare riferimento alle specifiche di base. Continua...
Con la nuova opzione software R&S MXO-K333 per l'analisi della potenza trifase, Rohde & Schwarz introduce direttamente negli oscilloscopi della serie MXO le funzionalità tipiche degli analizzatori di potenza.
Progettata per soddisfare le esigenze di tecnici e progettisti impegnati nello sviluppo e nel debug di sistemi trifase, questa opzione combina le principali misure di potenza con la visualizzazione completa delle forme d'onda, consentendo di correlare rapidamente il comportamento della variazioni di potenza con gli eventi acquisiti dai segnali in tempo reale e di individuare più rapidamente le cause dei problemi.
Leggi tutto: Analisi della potenza trifase con gli oscilloscopi R&S MXO
Con la nuova famiglia CSP disponibile sulla Conrad Sourcing Platform, Voltcraft diversifica la sua offerta di alimentatori da laboratorio con dodici modelli ultracompatti e con caratteristiche particolari tagliate su misura per adattare ciascun strumento a specifiche attività di nicchia, dalla manutenzione alla formazione.
Quattro dei dodici modelli (CSP-300, CSP-310, CSP-320 e CSP-400) sono in grado di funzionare anche a batteria, oltre che con il convertitore di tensione in dotazione.
Leggi tutto: Alimentatori da laboratorio Voltcraft serie CSP
Anritsu ha presentato il nuovo amplificatore lineare a larga banda con bias tee integrato AH15203A/B, uno strumento pensato per semplificare la caratterizzazione ad alta velocità di dispositivi ottici di nuova generazione con velocità di oltre 1 Tb/s.
Lo strumento risponde all'esigenza, sempre più pressante nei data center e nelle reti di comunicazione, di gestire l'aumento di capacità richiesto dai carichi di traffico legati ad AI, machine learning e servizi cloud, mantenendo al contempo qualità del segnale, efficienza energetica e affidabilità operativa.
Leggi tutto: Amplificatore lineare a banda larga per la caratterizzazione di dispositivi ottici
I moderni sistemi elettronici continuano a spingere i limiti delle prestazioni, dell’efficienza e dell’integrazione. Gli acceleratori per l'intelligenza artificiale elaborano enormi quantità di dati in tempo reale, l’elettronica automobilistica combina il calcolo ad alte prestazioni con sistemi di sensori sempre più complessi, i controllori industriali gestiscono sofisticati processi di automazione e le infrastrutture di comunicazione devono gestire in modo affidabile velocità di trasmissione dati in costante crescita.
Sebbene questi sviluppi siano spesso associati a processori più veloci, tecnologie avanzate dei semiconduttori e livelli più elevati di integrazione, un fattore altrettanto importante rimane in gran parte invisibile: la capacità di fornire un'alimentazione pulita, stabile e affidabile. Questo è il ruolo dell’integrità dell’alimentazione (PI, Power Integrity), una disciplina che si è evoluta da una considerazione secondaria in fase di progettazione a un requisito fondamentale in molti settori dell’elettronica moderna.
Alle più alte frequenze RF, la differenza tra una misurazione valida e un test fallito può dipendere da un leggero disallineamento durante l’accoppiamento dei connettori, da una coppia di serraggio errata o da una semplice incongruenza tra gli stessi. Per poter fare affidamento sui risultati dei di test, occorre innanzitutto eliminare l'effetto delle interconnessioni sull’incertezza di misura.
La spinta verso velocità di trasmissione dati sempre più elevate nel settore delle comunicazioni sta spingendo gli ambienti di test nel territorio delle onde millimetriche (mmWave), dove le tolleranze fisiche richiedono un nuovo livello di precisione. Man mano che le frequenze salgono fino a 110 GHz, le lunghezze d’onda si riducono a circa 2,7 millimetri, per cui anche i più piccoli difetti fisici nel connettore possono creare significative discontinuità di impedenza.
Leggi tutto: Test di integrità del segnale ad alta frequenza e connettori