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SystemLinkNational Instruments ha annunciato il rilascio ufficiale di SystemLink, un'applicazione software realizzate per facilitare una gestione efficace dei sistemi di misura e collaudo distribuiti basati sull'architettura modulare delle multinazionale americana.

SystemLink nasce per ottimizzare l'efficienza operativa e le prestazioni dei sistemi di collaudo e di acquisizione dati costruiti collegando in rete più apparati intelligenti. L'obiettivo di SystemLink è anche quello di ridurre i costi di manutenzione complessivi grazie a funzionalità di gestione centralizzata per svolgere attività come l'aggiornamento di software e firmware degli strumenti di misura e collaudo, la configurazione remota di dispositivi e schede, oltre al monitoraggio delle prestazioni dei sistemi.

Leggi tutto: SystemLink, il software per la gestione dei sistemi di misura e collaudo distribuiti

Categoria: ATE

Scheda Advantest FVI16Advantest ha esteso le funzionalità della sua piattaforma per il collaudo automatico di semiconduttori V93000 con l'unità di alimentazione e misura V-I floating FVI16, progettata per facilitare il collaudo di circuiti integrati di potenza e analogici utilizzati nelle applicazioni di ricarica mobile del settore automotive, industriale e consumer, tra cui il mercato in forte crescita dei caricatori rapidi per la mobilità elettrica.

Con ben 250 W di potenza impulsiva e un massimo di 40 W di potenza continuativa per l'alimentazione in corrente continua, la nuova unità assicura una potenza sufficiente per il collaudo dei dispositivi di ultima generazione mentre si eseguono misurazioni stabili e ripetibili sui dispositivi elettronici.

Leggi tutto: Unità di alimentazione floating per la piattaforma di test Advantest V93000

Categoria: ATE

SMU PXIe-4163L'unità di alimentazione e misura (SMU) PXIe-4163 di National Instruments è una scheda a alta densità per sestuplicare il numero di canali disponibili nel sistema di collaudo automatico per semiconduttori (STS) della multinazionale americana, ma che può essere sfruttata anche in qualunque sistema modulare PXI per effettuare misure parametriche.

La nuova scheda PXIe-4163 SMU ospita ben 24 canali di alimentazione e misura con funzionalità avanzate per occupando un solo slot PXI Express.

Leggi tutto: SMU ad alta densità per collaudo semiconduttori

Categoria: ATE

Sistema di collaudo parametrico Keysight P9000Keysight Technologies ha presentato il suo sistema di collaudo parametrico ad elevato parallelismo di terza generazione P9000.

Si tratta di un sistema di collaudo automatico che velocizza l'adozione su larga scala delle più recenti tecnologie microelettroniche riducendo il costo de collaudo durante le fasi di sviluppo e produzione in serie di semiconduttori logici avanzati e circuiti integrati di memoria di ultima generazione.

Leggi tutto: Sistema di collaudo parametrico ad elevato parallelismo Keysight P9000

Categoria: ATE

Cella di test per sensori di pressione Advantest HA7300Advantest ha presentato la cella di test HA7300, una soluzione innovativa pensata per applicare i valori necessari di temperatura e pressione nel collaudo dei sensori di pressione differenziale.

L’unità HA7300 si distingue per la sua capacità di controllo della temperatura, che permette di effettuare test con elevati livelli di velocità e precisione, sfruttando una tecnologia proprietaria che utilizza una piastra termica per applicare direttamente la temperatura ai sensori durante la misurazione.

Leggi tutto: Cella di test di stimolo per sensori di pressione differenziale Advantest HA7300

Categoria: ATE

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