FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024
Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
Keithley Instruments ha annunciato di aver apportato significative migliorie al software ACS (Automated Characterization Suite) che ora include come opzione i tool per il collaudo WLR (Wafer Level Reliability) utili per prevedere la durata e l’affidabilità dei dispositivi a semiconduttore. La nuova versione 4.0, realizzata sfruttando le funzionalità esistenti per il test parallelo single o multi-site, integra ora risorse di database così come tool software e licenze opzionali per le nuove funzionalità di analisi dei dati e il modulo RTM (Reliability Test Module). Leggi tutto: Sistema per il collaudo di affidabilità dei wafer
Advantest ha presentato il suo sistema di collaudo automatico per memorie DDR3-SDRAM ad alto parallelismo in grado di collaudare contemporaneamente fino a 128 dispositivi.
Le memorie SDRAM di tipo DDR3 sono alimentate a 1,5 V anziché a 1,8 come i dispositivi di memoria della generazione precedente DDR2, oltre a essere più veloci e più dense.
Il nuovo tester T5503 di Advantest ha una capacità doppia rispetto al modello precedente e permette di ridurre i costi del collaudo nelle linee di produzione ad alta velocità. La velocità massima di collaudo è pari a 3,2 Gbps e permette di eseguire test efficaci sia sui dispositivi di memoria DDR3, sia su quelli GDDR3 e GDDR4.
