FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024
Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
La nuova Yield Learning Solution proposta da Verigy si propone di aiutare i produttori di semiconduttori ad accelerare il time-to-market e ad aumentare il rendimento dell'investimento in linee e apparecchiature di produzione.
Si tratta di una una soluzione completa di hardware e software che integra l'acquisizione in tempo reale sui tester con l'analisi statistica di guasti elettrici rilevati su chip complessi.
Le piattaforme di collaudo basate sul bus VXI mantengono una notevole popolarità nelle applicazioni legate al settore aerospaziale per la verifica dei sistemi avionici di bordo.
Con la presentazione di tre nuovi moduli per bus VXI che permettono di personalizzare i sistemi automatici di collaudo, VTI Instruments rafforza la sua offerta in questo campo ampliando la disponibilità di prodotti per la sua ben nota famiglia di prodotti della serie SMIP.
Agilent Technologies ha presentato la versione digitale del suo sistema di collaudo in-circuit a basso costo Medalist i1000D, le cui funzionalità rappresentano una via di mezzo tra quelle dei tester in-circuit (ICT) di fascia alta e quelle dei più semplici analizzatori di difetti di produzione (MDA).
Leggi tutto: Tester in-circuit digitale Agilent Medalist i1000D
VTI Instruments ha presentato il suo nuovo strumento di precisione per misure di tensione e temperatura su 48 canali EX1000A-TC in formato rack conforme alle specifiche LXI Classe A.
Lo strumento ha un'accuratezza tipica delle misure di temperatura di 0,2° C e la tecnologia LXI Classe A ne permette la semplice e precisa sincronizzazione con altre apparecchiature facenti parte facenti parte di un sistema di collaudo automatizzato.
Keithley Instruments ha realizzato nuove funzionalità a livello hardware, firmware e software per il sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS dedicate alle prove sulle celle solari.
La release 7.2 dell'ambiente software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) prevede nove nuove librerie per test di celle solari, l'ampliamento del range di frequenza per le misure C-V (Capacitance-Voltage) e il supporto per il nuovo chassis a nove slot del modello 4200-SCS.
