FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024
Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
VTI Instruments (già VXI Technology) ha presentato una matrice di commutazione e misura molto compatta in formato rack U conforme alle specifiche LXI di Classe A.
Destinata ai produttori di semiconduttori, la famiglia di sistemi automatici di collaudo V6000 di Verigy permette di collaudare sia i componenti di memoria Flash, sia le memorie DRAM.
Tra i primi utilizzatori degli ATE serie V6000 vi è Numonyx, società nata da una costola di STM.
Leggi tutto: Verigy V6000 per il test di memorie flash e DRAM
National Instruments ha annunciato la nuova versione 8.6 di Measurement Studio, che fornisce librerie di acquisizione dati e controllo strumenti e nuove tecnologie per le ultime release di .NET e C++ per l'ambiente di sviluppo Visual Studio 2008 di Microsoft.
Measurement Studio 8.6 dispone di un set completo di librerie di classi .NET e C++, tool e driver per acquisizione dati e controllo strumenti per Microsoft Visual Studio 2008, Microsoft Foundation Class Library (MFC) 9.0 e il Framework .NET 3.5.
Keithley Instruments ha presentato la versione base del suo software per la redazione delle curve caratteristiche dei componenti elettronici ACS (Automated Characterization Suite) Basic Edition.
Si tratta di un programma da abbinare alla gamma di strumenti di generazione e misura della serie SourceMeter che permette di sostituire i tradizionali tool per il tracciamento di curve con una soluzione in grado di effettuare sia la tracciatura delle curve base sia il test parametrico, a fronte di costi decisamente competitivi.
Leggi tutto: Caratterizzazione di componenti con ACS Basic Edition
Keithley Instruments ha reso disponibile una versione di aggiornamento del software di misura KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il proprio sistema di caratterizzazione dei semiconduttori modello 4200-SCS (SCS – Semiconductor Characterization System).
