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Tester Advantest T2000Advantest ha presentato una nuova soluzione dedicata al collaudo automatico di ricetrasmettitori ottici per la sua famiglia di tester per semiconduttori T2000.

Il nuovo modulo 28G OPM (28 gigabit Optical Port Module) permette di collaudare simultaneamente fino a 8 ricetrasmettitori a 100 Gbps. Per collaudare ciascun ricetrasmettitore a 100 Gbps si utilizzano quattro canali con porte ottiche ed elettriche funzionanti fino a a 28 Gbps.

Leggi tutto: Collaudo ricetrasmettitori ottici con Advantest T2000

Categoria: ATE

Modulo Advantest PMU32E per T2000Il nuovo modulo di misurazione parametrica PMU32E è stato progettato da Advantest con l'obiettivo di migliorare le prestazioni della sua piattaforma T2000 nel test di dispositivi system-on-chip (SoC) digitali, analogici e per la gestione della potenza.

Pur conservando piena compatibilità con il precedente modulo PMU32, questo nuovo modello ad alta densità offre una risoluzione e una precisione doppia per tutti i suoi 32 canali.

Leggi tutto: Modulo collaudo parametrico per Advantest T2000

Categoria: ATE

Sistema di collaudo automatico Advantest EVA100Advantest ha presentato una nuova piattaforma destinata al collaudo e caratterizzazione di circuiti integrati e altri componenti elettronici analogici e misti con un numero di piedini ridotto.

Il nuovo strumento EVA100 è un sistema di collaudo automatico modulare decisamente più economico rispetto ai classici ATE da linea di produzione e nasce per soddisfare i requisiti dei laboratori di ricerca e caratterizzazione dell'industria elettronica.

Leggi tutto: Sistema di test e caratterizzazione IC analogici e misti EVA100

Categoria: ATE

Analizzatore packaging circuiti integrati Advantest TS9000Advantest ha presentato un nuovo sistema di collaudo capace di misurare lo spessore del packaging dei semiconduttori.

Il sistema MTA (Mold Thickness Analysis) TS9000 è basato sull'utilizzo delle onde Terahertz (THz), che permettono di valutare in modo non distruttivo le caratteristiche del contenitore stampato che avvolge il chip di un circuito integrato.

Leggi tutto: Controllo spessore del packaging dei semiconduttori

Categoria: ATE

ATE per semiconduttori NI STSNI Semiconductor Test System (STS) è il completamente nuovo sistema di collaudo automatico per semiconduttori recentemente presentato da National Instruments, che mira ad entrate in nuovo segmento di mercato puntando tutto sull'architettura modulare PXI.

La nuova famiglia di ATE di National Instruments promette di abbassare i costi rispetto alle soluzioni tradizionali sfruttando al massimo le architetture hardware standard aperte e le sue piattaforme software come TestStand e LabVIEW.

Leggi tutto: ATE per semiconduttori tutto PXI

Categoria: ATE

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