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Strumenti di misura professionali SONEL
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Analizzatori Anritsu per reti cellulari TD-SCDMAAnritsu ha presentato delle nuovi opzioni per le sue serie di strumenti portatili per l'analisi di reti cellulari di terza generazione di tipo TD-SCDMA, lo standard adottato in Cina.

Leggi tutto: Soluzioni portatili per l'analisi di reti TD-SCDMA

Matrice di commutazione PXII moduli ad alta densità NI PXI-2535 e PXI-2536 presentati da National Instruments sono delle matrici di commutazione che offrono fino a 544 punti di incrocio, la più alta densità di matrice disponibile in un singolo slot PXI in formato 3U.

Il modulo PXI-2535 è configurato come matrice 4x136 a un filo e il modulo PXI-2536 come matrice 8x68 a un filo. I moduli di commutazione sono realizzati con tecnologia FET (Field Effect Transistor), che offre nuovi vantaggi quali durata meccanica illimitata, connessioni simultanee senza limiti e velocità di commutazione pari a 50.000 punti al secondo.

Queste caratteristiche rendono gli switch una soluzione economica per instradare segnali DC di bassa potenza, per la validazione e il test di dispositivi prodotti in serie su vasta scala come i chip a semiconduttore. I nuovi moduli di commutazione si possono utilizzare con il software di gestione NI Switch Executive, che garantisce semplici configurazioni e riutilizzo del codice. 

Sorgente di misura per PXI National InstrumentsNational Instruments presenta un'unità di alimentazione e misura (SMU) per sistemi PXI.

Questi prodotti incrementano ulteriormente la piattaforma PXI per l’utilizzo in applicazioni DC di precisione, tipo test parametrici per semiconduttori e validazione di dispositivi elettronici e componenti. Si possono utilizzare i moduli in modo congiunto per caratterizzare con precisione i parametri di tensione e corrente su dispositivi ad elevato numero di pin, con il vantaggio di avere dimensioni e costi ridotti rispetto agli approcci tradizionali.

Leggi tutto: Sorgente di misura per PXI

Sonde Tektronix per memorie DDR3Tektronix ha annunciato una serie di strumenti per il test di memorie DDR2 e per la nuova tecnologia DDR3.

L'analizzatore logico TLA7000 e il nuovo modulo di acquisizione TLA7BB4 forniscono una soluzione di analisi adatta a tutte le velocità di funzionamento delle memorie DDR, DDR2 e DDR3, inclusa la DDR3-1600.

Leggi tutto: Modulo per il test di memorie DDR3

Tektronix ha annunciato la disponibilità di SerialXpress, un nuovo pacchetto software avanzato in grado di eseguire la sintesi diretta delle forme d’onda per il test dei ricevitori di dati seriali ad alta velocità, ideale sia nel test degli standard dei dati seriali SATA, SAS, PCI-Express, HDMI e DisplayPort che in tutte le altre tecnologie di bus seriale operanti a un massimo di 6 Gbps.

SerialXpress gestisce la creazione di queste forme d’onda per la trasmissione ad alta velocità della serie di generatori di forme d’onda arbitrarie AWG7000. Un’interfaccia facile da usare fornita nel pacchetto software SerialXpress rende la creazione e la gestione di forme d’onda seriali ad alta velocità di gran lunga più intuitive.

Leggi tutto: Tektronix SerialXpress per collaudare i bus seriali veloci

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FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024

Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…